更新時間:2020-04-13
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X熒光鍍層測厚儀(yi) 供應熒光測厚儀(yi) 標準片,測厚儀(yi) 校準片,膜厚儀(yi) 標準片,鍍層測厚儀(yi) 標準片,測厚儀(yi) 標準片,測厚儀(yi) 校準片,膜厚儀(yi) 標準片,鍍層測厚儀(yi) 標準片,X射線測厚儀(yi) 標準片,又叫X射線膜厚儀(yi) 校準片,專(zhuan) 業(ye) 用於(yu) 測厚儀(yi) (膜厚儀(yi) )在測金屬鍍層厚度的時候進行標準化校準.也就是我們(men) 在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據熒光X-射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關(guan) 係,來得到標準曲線。X熒光鍍層測厚儀(yi) 供應
之後以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
對於(yu) PCB,五金電鍍,半導體(ti) 等行業(ye) 使用測厚儀(yi) 來檢測品質和控製成本起到了很重要的作用。
光測厚儀(yi) 標準片一般分為(wei) 單鍍層片,雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學鍍層片。
如: 單鍍層:Ag/xx, 雙鍍層:Au/Ni/xx , 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學鍍層:Ni-P/
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