X射線熒光鍍層測厚儀標準樣品

 X射線熒光鍍層測厚儀(yi)   標準樣品（美國）銷售

測厚儀(yi) 標準片又名膜厚儀(yi) 校準片，專(zhuan) 業(ye) 用於(yu) X射線測厚儀(yi) （膜厚儀(yi) ）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們(men) 在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關(guan) 係，來得到標準曲線。之後以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對於(yu) PCB、五金電鍍和半導體(ti) 等行業(ye) 使用測厚儀(yi) 來檢測品質和控製成本起到了很重要的作用。
    

測厚儀(yi) 標準片一般分為(wei) 單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如:
單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST認證證書(shu) ），美國標樣！

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