X光測厚儀廠家

X光測厚儀(yi) 廠家產(chan) 品介紹

X光測厚儀(yi) 是一款無損、快速檢測金屬鍍層厚度的儀(yi) 器，主要測試鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍銠、鍍鈀等，江蘇天瑞儀(yi) 器股份有限公司是國產(chan) X光測厚儀(yi) 廠家，分析儀(yi) 器上市公司，產(chan) 品質量和售後服務有一定的保障。

Thick800A——X光測厚儀(yi) 是天瑞集多年的經驗，專(zhuan) 門研發用於(yu) 鍍層行業(ye) 的一款儀(yi) 器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控製儀(yi) 器的測試點，以及移動平台。是一款功能強大的儀(yi) 器，配上專(zhuan) 門為(wei) 其開發的軟件，在鍍層行業(ye) 中可謂大展身手。

標準配置

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平台，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。 

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳(chuan) 感器

保護傳(chuan) 感器

計算機及噴墨打印機

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平台可精確定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與(yu) 光斑對齊

鼠標可控製移動平台，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護

技術指標

型號：Thick 800A

元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾（U）。 

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為(wei) ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）

任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。 

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

部分產(chan) 品

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應用領域

X光測厚儀(yi) 廣泛應用於(yu) 金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB線路板、電子電器、氣配五金、衛浴、端子、高壓開關(guan) 等行業(ye) 。