PCB多鍍層厚度光譜分析儀

多鍍層測厚儀(yi)

Thick 8000PCB多鍍層厚度光譜分析儀(yi) 是專(zhuan) 門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型金屬鍍層膜厚儀(yi) 器。主要應用於(yu) ：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

性能優(you) 勢

1.精密的三維移動平台
2.的樣品觀測係統
3.*的圖像識別
4.輕鬆實現深槽樣品的檢測
5.四種微孔聚焦準直器，自動切換
6.雙重保護措施，實現無縫防撞
7.采用大麵積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動智能控製方式，一鍵式操作!
開機自動自檢、複位；
開蓋自動退出樣品台，升起Z軸測試平台，方便放樣；
關(guan) 蓋推進樣品台，下降Z軸測試平台並自動完成對焦；
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點；
點擊軟件界麵測試按鈕，自動完成測試並顯示結果。

技術指標

分析元素範圍：硫（S）～鈾（U）
同時檢測元素：zui多24個(ge) 元素，zui多測5層鍍層
分析含量：一般為(wei) 2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）
SDD探測器：分辨率低至135eV
*的微孔準直技術：zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩(liang) 個(ge) 工業(ye) 高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與(yu) Ф0.3mm四種準直器組合
儀(yi) 器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平台移動速度：額定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重複定位精度：小於(yu) 0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度：15℃～30℃

ROHS檢測，鍍層光譜儀(yi)

性能優(you) 勢

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
移動平台：精細的手動移動平台，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率

儀(yi) 器配置

移動樣品平台
SDD探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機

技術參數

元素分析範圍從(cong) 硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達ppm
分析含量一般為(wei) 1ppm到99.99％
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應範圍為(wei) 15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流淨化穩壓電源
能量分辨率：140±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

應用領域

RoHS檢測分析
地礦與(yu) 合金（銅、不鏽鋼等）成分分析
PCB多鍍層厚度光譜分析儀(yi) 主要用於(yu) RoHS指令相關(guan) 行業(ye) 、貴金屬加工和首飾加工行業(ye) ；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(ye) ，金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定。