X熒光測厚儀

X熒光測厚儀(yi)

產(chan) 品介紹

國內(nei) X熒光測厚儀(yi) ，當然是天瑞儀(yi) 器，天瑞儀(yi) 器是國內(nei) 早研發生產(chan) X熒光測厚儀(yi) 廠家，分析儀(yi) 器上市企業(ye) ，生產(chan) 的X熒光測厚儀(yi) 在行業(ye) 內(nei) 應用得到了客戶的廣泛應用和認可，尤其是thick800a屬於(yu) 鍍層係列的“明星”產(chan) 品，價(jia) 格相比國外更有優(you) 勢，產(chan) 品性能可以和國外相媲美，受到了客戶的親(qin) 睞。

X熒光測厚儀(yi) 技術指標

型號：Thick 800A

元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為(wei) ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）

任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

X熒光測厚儀(yi) 標準配置

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平台，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳(chuan) 感器

保護傳(chuan) 感器

計算機及噴墨打印機

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平台可定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與(yu) 光斑對齊

鼠標可控製移動平台，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護