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X射線熒光金屬鍍層分析儀

更新時間:2020-04-13

簡要描述:

Thick 800A型X射線熒光金屬鍍層分析儀(yi) 是通過X射線進行照射,根據二次反射,每個(ge) 元素能量不同來分析鍍層厚度,是一款無損、快速檢測儀(yi) 器,是天瑞集多年的經驗,專(zhuan) 門研發用於(yu) 電鍍行業(ye) 的一款儀(yi) 器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控製儀(yi) 器的測試點,以及移動平台,實現智能化、自動化,是一款功能強大的儀(yi) 器,配上專(zhuan) 門為(wei) 其開發的軟件,可以測試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。

X射線熒光金屬鍍層分析儀(yi) 應用領域

 

廣泛應用於(yu) 線路板、五金電鍍、首飾、端子、五金零配件、衛浴、自行車、鍾表、電子等行業(ye) 。可測量各類金屬層、合金層厚度等。

 

X射線熒光金屬鍍層分析儀(yi) 性能優(you) 勢

 

定位激光確定定位光斑,確保測試點與(yu) 光斑對齊

鼠標可控製移動平台,鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平台可定位測試點,重複定位精度小於(yu) 0.005mm

采用高度定位激光,可自動定位測試高度

 

技術指標

 

鍍層厚度:50μm以內(nei) (每種材料有所不同)

任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體(ti) 效應校正模型

多變量非線性回收程序

重複性:可達0.1%

穩定性:可達0.1%

操作環境溫度:1530

元素分析範圍:硫(S)~ 鈾(U

同時檢測元素:多24個(ge) 元素,5層鍍層

檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm

分析含量:2ppm99.9%

電源:交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源

外觀尺寸: 576W×495D×545Hmm

重量:90kg

 

儀(yi) 器配置

 

開放式樣品腔

精密二維移動樣品平台,探測器和X光管上下可動,實現三維移動

雙激光定位裝置

鉛玻璃屏蔽罩

Si-Pin探測器

信號檢測電子電路

高低壓電源

X光管

高度傳(chuan) 感器

保護傳(chuan) 感器

計算機及噴墨打印機

 

部分產(chan) 品

 

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