Thikc600X光測厚儀

Think600 X光測厚儀(yi)

1、Thikc600X光測厚儀(yi) 儀(yi) 器概述

    Think600鍍層測厚儀(yi) 使用高效而實用的正比計數盒和電製冷探測器，以實在的價(jia) 格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀(yi) 器操作更人性化、更方便。

2、Thikc600X光測厚儀(yi) 性能優(you) 勢

*穩定X銅光管
半導體(ti) 矽片電製冷係統，摒棄液氮製冷
采用信噪比增強器（SNE）
內(nei) 置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品
脈衝(chong) 處理器，數據處理快速準確
手動開關(guan) 樣品腔，操作安全方便
三重安全保護模式
整體(ti) 鋼架結構、外型高貴時尚
Fp軟件，無標準樣品時亦可測量

3、技術指標

分析範圍： Ti-U，可分析3層15個(ge) 元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
分析精度：多次測量穩定性可達1%.
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流淨化穩壓電源）
測量時間：40秒（可根據實際情況調整）
探測器分辨率：（160±5）eV
光管高壓：5-50kV
管流：50μA-1000μA
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：30%-70%
準直器：配置不同直徑準直孔，小孔徑φ0.2mm
儀(yi) 器尺寸：610（L）x 355（W）x 380（H）mm
儀(yi) 器重量：30kg