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多鍍層檢測儀

更新時間:2020-04-13

簡要描述:

Thick 8000 多鍍層檢測儀(yi) 是專(zhuan) 門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀(yi) 器。主要應用於(yu) :多金屬鍍層(鍍鎳、鍍鋅、鍍銅、鍍金、鍍銀等)的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

天瑞儀(yi) 器有限公司生產(chan) 的能量色散X熒光光譜儀(yi) 係列在電鍍檢測行業(ye) 中廣泛應用。

 

(1)、對多金屬鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析;

(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測,檢測環境裏的重金屬是否超標。

同時具有以下特點

快速:1分鍾就可以測定樣品鍍層的厚度,並達到測量精度要求。

方便:X熒光光譜儀(yi) 部分機型采用進口上*的電製冷半導體(ti) 探測器,能量分辨率更優(you) 於(yu) 135eV,測試精度更高。並且不用液氮製冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,並且運行成本比同類的其他產(chan) 品更低。

無損:測試前後,樣品無任何形式的變化。

直觀:實時譜圖,可直觀顯示元素含量。

測試範圍廣:X熒光光譜儀(yi) ,是一種物理分析方法,其分析與(yu) 樣品的化學結合狀態無關(guan) 。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從(cong) NaU

可靠性高:由於(yu) 測試過程無人為(wei) 因素幹擾,儀(yi) 器自身分析精度、重複性與(yu) 穩定性很高。所以,其測量的可靠性更高。

滿足不同需求:測試軟件為(wei) WINDOWS操作係統軟件,操作方便、功能強大,軟件可監控儀(yi) 器狀態,設定儀(yi) 器參數,並就有多種*的分析方法,工作曲線製作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

性價(jia) 比高:相比化學分析類儀(yi) 器,X熒光光譜儀(yi) 在總體(ti) 使用成本上有優(you) 勢的,可以讓更多的企業(ye) 和廠家接受。

簡易:對人員技術要求較低,操作簡單方便,並且維護簡單方便。

 

Thick 8000 鍍層測厚儀(yi)

 

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1多鍍層檢測儀(yi) 儀(yi) 器概述

    Thick 8000 鍍層測厚儀(yi) 是專(zhuan) 門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀(yi) 器。主要應用於(yu) :多金屬鍍層(鍍鎳、鍍鋅、鍍銅、鍍金、鍍銀等)的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

2多鍍層檢測儀(yi) 性能優(you) 勢

精密的三維移動平台

的樣品觀測係統

*的圖像識別

輕鬆實現深槽樣品的檢測

四種微孔聚焦準直器,自動切換

雙重保護措施,實現無縫防撞

采用大麵積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度

全自動智能控製方式,一鍵式操作!

開機自動退出自檢、複位

開蓋自動退出樣品台,升起Z軸測試平台,方便放樣

關(guan) 蓋推進樣品台,下降Z軸測試平台並自動完成對焦

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點

點擊軟件界麵測試按鈕,自動完成測試並顯示測試結果

3、技術指標

分析元素範圍:從(cong) 硫(S)到鈾(U

同時檢測元素:多24個(ge) 元素,多達五層鍍層

檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm

分析含量:一般為(wei) 2ppm99.9%

鍍層厚度:一般在50μm以內(nei) (每種材料有所不同)重複性:可達0.1%

穩定性:可達0.1%

SDD探測器:分辨率低至135eV

采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

樣品觀察:配備全景和局部兩(liang) 個(ge) 工業(ye) 高清攝像頭

準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與(yu)

Ф0.3mm四種準直器組合

儀(yi) 器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

樣品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

樣品台尺寸:393(W)x 258 (Dmm

X/Y/Z平台移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重複定位精度 :小於(yu) 0.1um

操作環境濕度:≤90%

操作環境溫度 15℃~30

4、測試實例

在保證計數率的情況下能有效分辨相近元素,大大提高測試穩定性、降低檢測限。

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