金層測厚儀廠家

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：

1、光學顯微鏡法。適用標準為(wei) ：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線法）。適用標準為(wei) ：GB/T16921-2005

3、庫侖(lun) 法，此法一般為(wei) 仲裁方法。適用標準為(wei) ：GB/T4955-2005

測量標準

1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美國標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

金層測厚儀(yi) 廠家分析原理

Thick600金層測厚儀(yi) 采用的是一種XRF光譜分析技術，X光管產(chan) 生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nei) 層電子，出現殼層空穴，當外層電子從(cong) 高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會(hui) 產(chan) 生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易於(yu) 測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

樣品測試步驟

1）              每天開機預熱30分鍾後打開測試軟件“FpThick”：

用戶使用“Administrator”，密碼：skyray

2）              進入測試軟件後，選擇“測試條件”

點擊“確定”，即測試條件確定（儀(yi) 器已設置好）

3）              選擇“工作曲線”

如待測樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推

4）              放入“Ag片”對儀(yi) 器進行初始化

初始化完成後，（峰通道為(wei) 1105，計數率達到一定的數，如300以上）。

5）              待測樣品測試

放入待測的樣品，通過攝像頭畫麵觀察當前放入的樣品的表麵情況，以及儀(yi) 器的X射線的聚焦點。可以通過軟件提供的十字坐標（也稱十字光標）來定位該聚焦點，將樣品放在聚焦點位置。點擊“開始”，輸入樣品名稱後“確定”。

6）              測試完成後即可保持報告，報告的位置可以在桌麵的“分析報告”快捷方式中的“鍍層報告”中找到。

注意：測試鍍層樣品時，必須先要確定是什麽(me) 鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。

金層測厚儀(yi) 廠家性能特點  

1. *穩定X銅光管；

2.半導體(ti) 矽片電製冷探測器，摒棄元素識別能力較弱的計數盒；

3.內(nei) 置天瑞儀(yi) 器研發部研發的—信噪比增強器（SNE）與(yu) MCA多道分析器；

4.內(nei) 置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品；

5.脈衝(chong) 處理器，數據處理快速準確；

6.手動開關(guan) 樣品腔，操作安全方便；

7.三重安全保護模式；

8.整體(ti) 鋼架結構、外型簡潔；

9.FP軟件，無標準樣品時亦可測量。