天瑞XRF鍍層測量儀 Thick800A 天瑞儀器價格

XRF鍍層測量儀(yi) 是一款功能強大的電鍍層厚度分析儀(yi) 器，配上專(zhuan) 門為(wei) 其開發的軟件，在鍍層行業(ye) 中可謂大展身手，檢測電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,Thick800AXRF鍍層測量儀(yi) 是天瑞集多年的經驗，專(zhuan) 門研發用於(yu) 鍍層行業(ye) 的一款測量儀(yi) 器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控製儀(yi) 器的測試點，以及移動平台。

天瑞XRF鍍層測量儀(yi) Thick800A 天瑞儀(yi) 器價(jia) 格性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平台可定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與(yu) 光斑對齊
鼠標可控製移動平台，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護

天瑞XRF鍍層測量儀(yi) Thick800A 天瑞儀(yi) 器價(jia) 格技術指標

型號：Thick 800A
元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為(wei) ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

工作原理

物質經X射線或粒子射線照射後，由於(yu) 吸收多餘(yu) 的能量而變成不穩定的狀態。從(cong) 不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多餘(yu) 的能量釋放出來，而此時是以 熒光或光的形態被釋放出來。x射線鍍層測量儀(yi) 或成分分析儀(yi) 的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平台，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳(chuan) 感器
保護傳(chuan) 感器
計算機及噴墨打印機