更新時間:2020-04-13
無損傷(shang) 鍍層測厚儀(yi) (xrf)的測量分辨率已達到納米級,精度更是有了大幅度的提高,且具有適用範圍廣泛,量程寬、操作簡便且界麵友好等特點,可以檢測鍍金層、鍍鎳層、鍍鋅層、鍍鉻層、鍍銠層,鍍鈀層,鍍銀層、鍍銅層、鍍錫層的厚度。檢測速度快。
隨著科學技術的日益進步,特別是計算機技術的快速突破,也同時向著微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向發展。天瑞儀(yi) 器無損傷(shang) 鍍層測厚儀(yi) (xrf)的測量分辨率已達到納米級,精度更是有了大幅度的提高,且具有適用範圍廣泛,量程寬、操作簡便且界麵友好等特點,可以檢測鍍金層、鍍鎳層、鍍鋅層、鍍鉻層、鍍銠層,鍍鈀層,鍍銀層、鍍銅層、鍍錫層的厚度。檢測速度快。
無損傷(shang) 鍍層測厚儀(yi) 技術指標
型號:Thick 800A
元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析檢出限可達2ppm,薄可測試0.005μm。
分析含量一般為(wei) ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nei) (每種材料有所不同)
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重複性可達0.1%
*工作穩定性可達0.1%
度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V 建議配置交流淨化穩壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
無損傷(shang) 鍍層測厚儀(yi) 標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平台,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳(chuan) 感器
保護傳(chuan) 感器
計算機及噴墨打印機
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平台可定位測試點,重複定位精度小於(yu) 0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與(yu) 光斑對齊
鼠標可控製移動平台,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護
應用領域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用於(yu) 貴金屬加工和首飾加工行業(ye) ;銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業(ye) 。