天瑞鍍層厚度熒光檢測儀

軟件優(you) 勢

儀(yi) 器采用天瑞軟件研發團隊研發的能量色散X熒光FpThick軟件，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作。譜圖區域采用動態模式，測試時元素觀察更直觀。

軟件具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內(nei) 置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

天瑞鍍層厚度熒光檢測儀(yi) 參數規格

1   分析元素範圍：S-U2   同時可分析多達5層以上鍍層3   分析厚度檢出限達0.005μm4   多次測量重複性可達0.01μm5   定位精度：0.1mm6   測量時間：30s-300s7   計數率：1300-8000cps8   Z軸升降範圍：0-140mm9   X/Y平台可移動行程：50mm(W)×50mm(D) 

天瑞鍍層厚度熒光檢測儀(yi) 性能特點

1.滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求2.φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，可以對同一鍍件不同部位測試厚度3.高精度移動平台可定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm4.采用高度定位激光，可自動定位測試高度5.定位激光確定定位光斑，確保測試點與(yu) 光斑對齊6.鼠標可控製移動平台，鼠標點擊的位置就是被測點7.高分辨率探頭使分析結果更加精準8.良好的射線屏蔽作用9.測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護 

測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體(ti) 免受氧化同時還能起到美觀的作用。這裏以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為(wei) 例說明此款儀(yi) 器的測試效果。
以下使用Thick800A儀(yi) 器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖。 結論

實驗表明，使用Thick800A 儀(yi) 器對鍍件膜厚測試，結果準確度高，速度快（幾十秒），其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：1.光學顯微鏡法。適用標準為(wei) ：GB/T6462-20052.X-ray法（X射線法）。適用標準為(wei) ：GB/T16921-2005

3.庫侖(lun) 法，此法一般為(wei) 仲裁方法。適用標準為(wei) ：GB/T4955-2005

Thick800A鍍層厚度熒光檢測儀(yi) 是天瑞儀(yi) 器銷量的鍍層測厚儀(yi) ；儀(yi) 器采用上照式結構，測試，軟件界麵簡潔，測試樣品用時40S，售後服務可靠及時。

儀(yi) 器配置

1    硬件：主機壹台，含下列主要部件： ①X光管                    ②半導體(ti) 探測器③放大電路                  ④高精度樣品移動平台⑤高清晰攝像頭             ⑥高壓係統⑦上照、開放式樣品腔        ⑧雙激光定位⑨玻璃屏蔽罩2   軟件：天瑞X射線rel="nofollow" 熒光光譜儀(yi) FpThick分析軟件V1.03   計算機、打印機各一台計算機（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機（佳能，彩色噴墨打印機）4   資料：使用說明書(shu) （包括軟件操作說明書(shu) 和硬件使用說明書(shu) ）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。5   標準附件準直孔：0.1X1.0mm（已內(nei) 置於(yu) 儀(yi) 器中）