金屬鍍層測厚儀器 Thick800a 天瑞儀器熱賣

金屬鍍層測厚儀(yi) 器為(wei) 什麽(me) 選擇天瑞thick800a
快速：1分鍾就可以測定樣品鍍層的厚度，並達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀(yi) 部分機型采用進口上*的電製冷半導體(ti) 探測器，能量分辨率更優(you) 於(yu) 135eV，測試精度更高。並且不用液氮製冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，並且運行成本比同類的其他產(chan) 品更低。
無損：測試前後，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試範圍廣：X熒光光譜儀(yi) ，是一種物理分析方法，其分析與(yu) 樣品的化學結合狀態無關(guan) 。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從(cong) Na到U。
可靠性高：由於(yu) 測試過程無人為(wei) 因素幹擾，儀(yi) 器自身分析精度、重複性與(yu) 穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為(wei) WINDOWS操作係統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀(yi) 器狀態，設定儀(yi) 器參數，並就有多種*的分析方法，工作曲線製作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價(jia) 比高：相比化學分析類儀(yi) 器，X熒光光譜儀(yi) 在總體(ti) 使用成本上有優(you) 勢的，可以讓更多的企業(ye) 和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,並且維護簡單方便。

金屬鍍層測厚儀(yi) 器 Thick800a 天瑞儀(yi) 器熱賣性能優(you) 勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平台可定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm

快速、無損的分析

成份分析多可達25種元素

同時可多分析5層

基於(yu) 基本參數法的鍍層和成份分析方法

僅(jin) 需一根USB線與(yu) 電腦連接

快捷的麵板控製按鈕

占用空間小、輕量化設計

金屬鍍層測厚儀(yi) 器 Thick800a 天瑞儀(yi) 器熱賣技術指標

元素分析範圍從(cong) 硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為(wei) 2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型
多變量非線性回收程序
*工作穩定性高

工作環境
度適應範圍為(wei) 15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源
儀(yi) 器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg