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x熒光厚度測厚儀

更新時間:2020-04-13

簡要描述:

x熒光厚度測厚儀(yi) 是專(zhuan) 門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀(yi) 器。主要應用於(yu) :金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

x熒光厚度測厚儀
 

1、電鍍行業(ye) 綜合解決(jue) 方案

    電鍍是國民經濟中*的基礎工藝性行業(ye) ,同時又是重汙染行業(ye) 。電鍍所帶來的廢氣、廢水、廢渣嚴(yan) 重地影響人們(men) 的生活與(yu) 健康。要提高電鍍企業(ye) 的實力就必須從(cong) 企業(ye) 的硬件著手。而內(nei) 部管控測試是*的環節,其中產(chan) 品膜厚檢測、RoHS有害元素檢測、電鍍液分析、電鍍工業(ye) 廢水、廢渣中的重金屬檢測和水質在線檢測等更是重中之重。為(wei) 此江蘇天瑞儀(yi) 器股份有限公司基於(yu) 強大的研發和應用能力特別為(wei) 電鍍行業(ye) 製定了一套有效的測試解決(jue) 方案。

鍍層膜厚檢測:有效進行鍍層厚度的產(chan) 品質量管控
電鍍液分析:檢測電鍍液成分及濃度,確保鍍層質量
水質在線監測:有效監測電鍍所產(chan) 生的工業(ye) 廢水中的有害物質含量,已達到排放標準
RoHS有害元素檢測:為(wei) 電鍍產(chan) 品符合RoHS標準,嚴(yan) 把質量關(guan)
重金屬及槽液雜質檢測:有效檢測電鍍成品,以及由電鍍所產(chan) 生的工業(ye) 廢水、廢物中的重金屬含量

2、 天瑞儀(yi) 器有限公司生產(chan) 的能量色散X熒光光譜儀(yi) 係列在電鍍檢測行業(ye) 中, 針對上述五項需求的應用:

(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析;
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測,檢測環境裏的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速:1分鍾就可以測定樣品鍍層的厚度,並達到測量精度要求。
方便:X熒光光譜儀(yi) 部分機型采用進口上*的電製冷半導體(ti) 探測器,能量分辨率更優(you) 於(yu) 135eV,測試精度更高。並且不用液氮製冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,並且運行成本比同類的其他產(chan) 品更低。
無損:測試前後,樣品無任何形式的變化。
直觀:實時譜圖,可直觀顯示元素含量。
測試範圍廣:X熒光光譜儀(yi) ,是一種物理分析方法,其分析與(yu) 樣品的化學結合狀態無關(guan) 。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從(cong) Na到U。
可靠性高:由於(yu) 測試過程無人為(wei) 因素幹擾,儀(yi) 器自身分析精度、重複性與(yu) 穩定性很高。所以,其測量的可靠性更高。
滿足不同需求:測試軟件為(wei) WINDOWS操作係統軟件,操作方便、功能強大,軟件可監控儀(yi) 器狀態,設定儀(yi) 器參數,並就有多種*的分析方法,工作曲線製作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價(jia) 比高:相比化學分析類儀(yi) 器,X熒光光譜儀(yi) 在總體(ti) 使用成本上有優(you) 勢的,可以讓更多的企業(ye) 和廠家接受。
簡易:對人員技術要求較低,操作簡單方便,並且維護簡單方便。

3、天瑞一直致力於(yu) 分析儀(yi) 器事業(ye) ,相信天瑞會(hui) 為(wei) 電鍍行業(ye) 的客戶提供有競爭(zheng) 力的解決(jue) 方案和服務。

    
短交貨時間
快安裝
短維修周期
長保修期
個(ge) 性化服務
維護費用

鍍層膜厚檢測解決(jue) 方案

Thick 8000 鍍層測厚儀(yi)

 

1、x熒光厚度測厚儀(yi) 儀(yi) 器概述

    Thick 8000 鍍層測厚儀(yi) 是專(zhuan) 門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀(yi) 器。主要應用於(yu) :金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

2、x熒光厚度測厚儀(yi) 性能優(you) 勢

精密的三維移動平台
的樣品觀測係統
*的圖像識別
輕鬆實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大麵積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控製方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、複位
開蓋自動退出樣品台,升起Z軸測試平台,方便放樣
關(guan) 蓋推進樣品台,下降Z軸測試平台並自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界麵測試按鈕,自動完成測試並顯示測試結果

3、技術指標

分析元素範圍:從(cong) 硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個(ge) 元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為(wei) 2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(nei) (每種材料有所不同)重複性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩(liang) 個(ge) 工業(ye) 高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與(yu)
Ф0.3mm四種準直器組合
儀(yi) 器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重複定位精度 :小於(yu) 0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度 15℃~30℃

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