天瑞金屬鍍層厚度儀

成分Ni(%)

Think600

1、天瑞金屬鍍層厚度儀(yi) 儀(yi) 器概述

Think600金屬鍍層厚度儀(yi) 使用高效而實用的正比計數盒和電製冷探測器，以實在的價(jia) 格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀(yi) 器操作更人性化、更方便。

2、天瑞金屬鍍層厚度儀(yi) 性能優(you) 勢

*穩定X銅光管
半導體(ti) 矽片電製冷係統，摒棄液氮製冷
采用信噪比增強器（SNE）
內(nei) 置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品
脈衝(chong) 處理器，數據處理快速準確
手動開關(guan) 樣品腔，操作安全方便
三重安全保護模式
整體(ti) 鋼架結構、外型高貴時尚
Fp軟件，無標準樣品時亦可測量

3、技術指標

分析範圍： Ti-U，可分析3層15個(ge) 元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
分析精度：多次測量穩定性可達1%.
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流淨化穩壓電源）
測量時間：40秒（可根據實際情況調整）
探測器分辨率：（160±5）eV
光管高壓：5-50kV
管流：50μA-1000μA
環境溫度：15℃-30℃ 
環境濕度：30%-70%
準直器：配置不同直徑準直孔，小孔徑φ0.2mm
儀(yi) 器尺寸：610（L）x 355（W）x 380（H）mm
儀(yi) 器重量：30kg

(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析；
(2)重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測，檢測環境裏的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速：1分鍾就可以測定樣品鍍層的厚度，並達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀(yi) 部分機型采用進口上*的電製冷半導體(ti) 探測器，能量分辨率更優(you) 於(yu) 135eV，測試精度更高。並且不用液氮製冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，並且運行成本比同類的其他產(chan) 品更低。
無損：測試前後，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試範圍廣：X熒光光譜儀(yi) ，是一種物理分析方法，其分析與(yu) 樣品的化學結合狀態無關(guan) 。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從(cong) Na到U。
可靠性高：由於(yu) 測試過程無人為(wei) 因素幹擾，儀(yi) 器自身分析精度、重複性與(yu) 穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為(wei) WINDOWS操作係統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀(yi) 器狀態，設定儀(yi) 器參數，並就有多種*的分析方法，工作曲線製作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價(jia) 比高：相比化學分析類儀(yi) 器，X熒光光譜儀(yi) 在總體(ti) 使用成本上有優(you) 勢的，可以讓更多的企業(ye) 和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,並且維護簡單方便

公司的X熒光檢測技術具有快速、、無損的特點。X熒光分析儀(yi) 可以應用於(yu) 任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領域，如：電子電器（bv伟德吧）、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(鋼鐵、有色金屬)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地質采礦、商品檢驗、質量檢驗甚至人體(ti) 微量元素的檢驗等等。