天瑞xrf膜厚測試儀

XRF膜厚測試儀(yi)

產(chan) 品介紹

XRF膜厚測試儀(yi) 是一款通過X射線原理快速、無損測試鍍層膜厚的儀(yi) 器，主要應用於(yu) 金屬鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銀……）膜厚的檢測儀(yi) ，天瑞儀(yi) 器是國內(nei) 早研發生產(chan) XRF係列產(chan) 品的廠家，XRF鍍層膜厚測試儀(yi) 也是打破了國外壟斷的局麵，讓客戶以的價(jia) 格買(mai) 到性價(jia) 比的儀(yi) 器，為(wei) 企業(ye) 降低采購成本的同時，也為(wei) 國產(chan) 儀(yi) 器的發展做出了微薄的貢獻。

標準配置

開放式樣品腔，滿足大樣品測試

精密二維移動樣品平台，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳(chuan) 感器

保護傳(chuan) 感器

計算機及噴墨打印機（可以保存和實時打印）

天瑞xrf膜厚測試儀(yi) 技術指標

多變量非線性回收程序

度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。

任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。

型號：Thick 800A XRF鍍層膜厚測試儀(yi)

元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為(wei) ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

天瑞xrf膜厚測試儀(yi) 性能特點

定位激光確定定位光斑，確保測試點與(yu) 光斑對齊

鼠標可控製移動平台，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平台可定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

應用領域

XRF膜厚測試儀(yi) 應用於(yu) 金屬鍍層的厚度（鍍銀、鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍鉻、鍍鈀等）測量、電鍍液和鍍層含量的測定,端子連接器、LED、半導體(ti) 、衛浴潔具、PCB、電子電器、氣配五金、珠寶首飾、汽車配件、製冷設備、檢測機構以及研究所和高等院校等衛浴等行業(ye) 。