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電火花光譜分析儀

更新時間:2020-04-13

簡要描述:

電火花光譜分析儀(yi) OES1000采用光電倍增管(PMT)技術和*光路設計使其具有優(you) 異性能,尤其對真空紫外譜線(涉及C、P、S、B、Sn等元素)、常量和痕量含量元素的檢測有*優(you) 勢,是追求高性能測試用戶的。

產(chan) 品介紹

 

電火花光譜分析儀(yi) OES1000采用光電倍增管(PMT)技術和*光路設計使其具有優(you) 異性能,尤其對真空紫外譜線(涉及C、P、S、B、Sn等元素)、常量和痕量含量元素的檢測有*優(you) 勢,是追求高性能測試用戶的。

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樣品測試速度快,單次測試過程少於(yu) 40秒

軟件可對測試結果自動判定牌號

儀(yi) 器使用和維護簡單、方便,對人員專(zhuan) 業(ye) 要求低

原廠安裝分析程序,測試數據,適用合號齊全

配置標準化樣品可對儀(yi) 器進行周期性校正

不使用化學試劑,測試過程安全、環保

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電火花光譜分析儀(yi) 主要針對於(yu) 爐前快速分析,企業(ye) 來料分析等,廣泛應用於(yu) 不鏽鋼、合金鋼、耐熱鋼、鋁合金、銅合金、鎂合金等合金測試,產(chan) 品得到客戶的廣泛應用和認可。全天候工作,具有優(you) 異的穩定性和可靠性

 

技術性能

 

1.分光室設計

帕邢-龍格裝置,1米焦距

根據測試需求分為(wei) 真空型(真空度≤3Pa)、空氣型兩(liang) 種

恒溫控製(32℃±0.1℃)

特殊材質鑄造,保證光室形變小

2.多安裝通道 32

3.凹麵光柵

刻線密度2160gr/mm

曲率半徑998.8mm

逆線色散率0.47nm/mm

波長範圍170-463nm

4.狹縫寬度

入射狹縫20μm,

出射狹縫為(wei) 整體(ti) 狹縫,寬度為(wei) 35-75μm

5.光電倍增管

10級側(ce) 窗型,熔融石英或玻璃外殼;

6.分析時間

依樣品種類而不同,一般少於(yu) 40秒

7.激發光源

高能預火花光源(HEPS),放電頻率100-900Hz,電極間距3-4mm

8.測光方式

采用光電倍增管檢測器測光,光電倍增管負高壓連續可調,傳(chuan) 統的分段積分法

9.控製係統

采用FPGA技術控製整個(ge) 儀(yi) 器的工作狀態

10.尺寸和重量

尺寸:1680(長)×1020(寬)×1150(高)mm

重量:約500kg

 

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