更新時間:2020-04-13
X射線鍍層膜厚測量儀(yi) 是一種功能強大的金屬鍍層測量儀(yi) 器,同時可以測試鍍金,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍銅,鍍銠,鍍鈀等鍍層厚度,多可以測5層,為(wei) 產(chan) 品質量控製提供準確、快速的分析,是線路板...
產(chan) 品介紹
X射線鍍層膜厚測量儀(yi) 是一種功能強大的金屬鍍層測量儀(yi) 器,同時可以測試鍍金,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍銅,鍍銠,鍍鈀等鍍層厚度,多可以測5層,為(wei) 產(chan) 品質量控製提供準確、快速的分析,是線路板,五金電鍍,首飾,連接器,端子等行業(ye) 的.可測量各類金屬層、合金層厚度.
標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平台,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳(chuan) 感器
保護傳(chuan) 感器
計算機及噴墨打印機
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平台可定位測試點,重複定位精度小於(yu) 0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與(yu) 光斑對齊
鼠標可控製移動平台,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護
技術指標
型號:Thick 800A
元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為(wei) ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nei) (每種材料有所不同)
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
部分產(chan) 品
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廠家優(you) 勢
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