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X射線鍍層膜厚測量儀

更新時間:2020-04-13

簡要描述:

X射線鍍層膜厚測量儀(yi) 是一種功能強大的金屬鍍層測量儀(yi) 器,同時可以測試鍍金,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍銅,鍍銠,鍍鈀等鍍層厚度,多可以測5層,為(wei) 產(chan) 品質量控製提供準確、快速的分析,是線路板...

產(chan) 品介紹

 

X射線鍍層膜厚測量儀(yi) 是一種功能強大的金屬鍍層測量儀(yi) 器,同時可以測試鍍金,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍銅,鍍銠,鍍鈀等鍍層厚度,多可以測5層,為(wei) 產(chan) 品質量控製提供準確、快速的分析,是線路板,五金電鍍,首飾,連接器,端子等行業(ye) 的.可測量各類金屬層、合金層厚度.

 

標準配置

 

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平台,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。 

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳(chuan) 感器

保護傳(chuan) 感器

計算機及噴墨打印機

 

性能特點

 

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平台可定位測試點,重複定位精度小於(yu) 0.005mm

采用高度定位激光,可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑,確保測試點與(yu) 光斑對齊

鼠標可控製移動平台,鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護

 

技術指標

 

型號:Thick 800A

元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾(U)。 

同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。

分析含量一般為(wei) ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內(nei) (每種材料有所不同)

任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。 

外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 

樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:90kg

 

部分產(chan) 品

 

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廠家優(you) 勢

 

江蘇天瑞儀(yi) 器股份有限公司作為(wei) 國X射線鍍層膜厚測量儀(yi) 的生產(chan) 廠家,分析儀(yi) 器上市公司(300165),產(chan) 品質量和售後服務,*,價(jia) 格上麵更優(you) 惠,歡迎客戶來電谘詢!

 

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