X-Ray電鍍膜厚測試儀

儀(yi) 器介紹

X-Ray電鍍膜厚測試儀(yi) （thick680）是天瑞根據多年的貴金屬檢測技術和經驗，以*的產(chan) 品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界麵來滿足貴金屬的成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕鬆完成，測試簡單，方便，易於(yu) 人員快速掌握.

性能特點

專(zhuan) 業(ye) 貴金屬檢測、鍍層測厚儀(yi)

內(nei) 置信噪比增強器，可有效提高儀(yi) 器信號處理能力25倍以上

智能貴金屬軟件，與(yu) 儀(yi) 器相得益彰

任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型

多變量非線性回收程序

技術指標

X射線激發係統 垂直上照式X射線光學係統

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

X射線管：管電壓50KV，管電流1mA

可測元素：Ti～U

檢測器：正比計數管

樣品觀察：CCD攝像頭

測定軟件：薄膜FP法、檢量線法

Z軸程控移動高度 20mm

標準配置

X射線管，正比記數盒，高清攝像頭，高度激光，信號檢測電子電路。

應用領域

X-Ray電鍍膜厚測試儀(yi) 主要用於(yu) 金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。廣泛應用於(yu) 電子電器、五金工具、精密汽車配件、表麵處理、PCB線路板等企業(ye) 。