更新時間：2020-04-13
EHM-X200大氣重金屬分析儀(yi) 是天瑞儀(yi) 器*的雙功能全自動在線分析儀(yi) 器。它創新地將技術——X射線熒光（XRF）無損檢測技術、β射線吸收檢測技術與(yu) 空氣顆粒物自動富集技術*結合，不...
大氣重金屬分析儀(yi) 產(chan) 品介紹
EHM-X200大氣重金屬分析儀(yi) 是天瑞儀(yi) 器*的雙功能全自動在線分析儀(yi) 器。它創新地將技術——X射線熒光（XRF）無損檢測技術、β射線吸收檢測技術與(yu) 空氣顆粒物自動富集技術*結合，不僅(jin) 可以監測空氣顆粒物質量濃度, 還可以同時對顆粒物中元素成分進行定量分析。該儀(yi) 器具有pg/m3 量級的檢出限，處於(yu) *水平，廣泛應用於(yu) 空氣質量監測、汙染溯源及源解析、環境評價(jia) 等領域。
大氣重金屬分析儀(yi) 測量原理
儀(yi) 器以恒定的工況流量將空氣吸入顆粒物切割器中，以PM2.5為(wei) 例，動力學直徑在2.5um附近及以下的顆粒汙染物進入到儀(yi) 器的富集係統中。經過一段時間的富集後，富集係統自動切換成β射線分析係統，利用β射線的衰減與(yu) 顆粒物的質量濃度成指數的關(guan) 係，對顆粒物的質量濃度進行分析。然後卷膜係統地將富集有空氣顆粒物的濾紙移動到X射線熒光分析係統，分別利用X射線熒光的能量和強度對顆粒物中的元素成分進行定性和定量的分析。
X射線熒光光譜技術（XRF）的原理見圖3所示，可以直接檢測固體(ti) 或液體(ti) 樣品中ppm量級的元素成分。采用富集後再檢測的辦法，使得XRF技術對空氣顆粒物中的重金屬成分的檢測限優(you) 於(yu) 0.001ug/m3。而常規實驗室的檢測技術，由於(yu) 預處理消解過程中需要將微克量級的樣品溶解到幾十克的液體(ti) 中，而使得濃度被稀釋百萬(wan) 倍，從(cong) 而多數儀(yi) 器（譬如ICP-AES、或原子吸收光譜儀(yi) ）無法檢出元素含量低於(yu) 10ug/m3量級的空氣顆粒物樣品。
大氣重金屬分析儀(yi) 性能特點
（1）空氣顆粒物濃度、大氣重金屬濃度一體(ti) 式協同測量，為(wei) 汙染溯源及源解析提供更精準數據；
（2）TSP、PM10、PM2.5三種切割器可供用戶選擇，應用於(yu) 不同的環境評價(jia) 場合；
（3）鉛、鎘、砷等30多種重金屬含量測量，檢出限在pg/m3量級；
（4）從(cong) 光管、探測器、數字多道分析器（DCMA）到整機，數十項XRF核心技術發明；
（5）具有技術證書(shu) 和測試報告，儀(yi) 器的可靠性、準確性得到充分驗證。
大氣重金屬分析儀(yi) 技術參數
以下列出了大氣重金屬分析儀(yi) 的一些重要技術參數（表1）。
表1 天瑞儀(yi) 器 EHM-X200大氣重金屬分析儀(yi) 技術參數
名稱 | 性能參數及要求 |
檢測技術 | (1)重金屬的測量方法基於(yu) 美國EPA方法IO-3.3的非破環性X射線熒光(XRF)原理； |
測試內(nei) 容 | （1）可監測TSP/PM10/PM2.5空氣顆粒物（PM）質量總濃度； |
測量結果 | 用戶可以自由選擇如下三種測量結果： |
檢測範圍 | 重金屬，0～100μg/m3； |
檢出限 | pg/m3量級 (采樣時間4小時、流速16.7L/min)； |
重現性 | 重金屬，RSD < 1% （Pb的標準樣片）； |
采樣分析時間 | 30～1440分鍾連續采樣，可自定義(yi) 。采樣流量(0～20)L/min 可調節，DHS 動態加熱。采樣與(yu) 分析同時進行，無采樣間隔。 |
采樣濾膜 | 采樣濾膜為(wei) PTFE濾紙材質，對0.3μm顆粒物的截留效率≥99.7% ，不含重金屬元素成分； |
安全防護 | 輻射劑量符合《X射線衍射儀(yi) 和熒光分析儀(yi) 衛生防護標準》規定，具有相關(guan) 部門X射線表麵輻射劑量檢測報告,距離機箱5cm處，輻射劑量小於(yu) 2.5μGy/h； |
質控要求 | （1）儀(yi) 器具備流量自動校準功能； |
分析軟件 | （1）提供設備配套數據分析管理軟件，開放通訊協議，可接入已有數采平台；中文操作界麵，觸摸屏操作，顯示實時采樣流量，采樣時間，測量狀態，重金屬濃度值、含量曲線等信息。 |
