膜厚測試儀是一種非接觸式測量儀器，一般會運用在生產廠商大量生產產品的過程，由於誤差經常會導致產品全部報廢，這時候就需要運用膜厚測試儀來介入到生產環境，避免這種情況的發生。由於是光學測量，在測量時候無須擔心破壞樣品，讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界麵間反射光譜的分析，幾秒鍾內就可測量結果。
膜厚測試儀的優點：
1.非接觸式測量
膜厚測試儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬於非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠保證樣品的完整性。
2.測量數據多樣
可以測得物體的膜厚度和n，k數據，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。
3.測量快速
膜厚測試儀的測量過程非常快速，因為該設備采用了先進的結構設計，能夠程度的提升測量效率，相比於其他類型膜厚測量設備來說顯得非常輕巧方便。
4.適用範圍廣
膜厚測試儀的適用範圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業生產，再到大學實驗室和科學研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用範圍極其廣泛，能夠作業的場合也變得更加多樣化。
膜厚測試儀主要應用在：
半導體行業如：光刻膠的厚度測量；加工膜層的厚度測量，介電層的厚度測量等。
液晶顯示器行業如：OLED領域各種透明薄膜的厚度測量，玻璃上麵塗層的厚度測量等
光學鍍層行業如：硬塗層，抗反射層等塗層厚度測量。
生物醫學行業如：聚對二甲苯，醫療器械等領域可透光塗層膜厚的測量。
膜厚測試儀應用領域極其廣闊，適用於多種行業以及大學實驗室等，提供低至納米級別的薄膜厚度測量可能。
以上就是今天為大家帶來關於膜厚測試儀的相關科普介紹，供大家探討和參考！
