Thick 800A鍍層厚度分析儀

儀(yi) 器介紹

Thick800A鍍層厚度分析儀(yi) 是天瑞集多年的經驗，專(zhuan) 門研發用於(yu) 鍍層行業(ye) 的一款儀(yi) 器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控製儀(yi) 器的測試點，以及移動平台。是一款功能強大的鍍層膜厚測試儀(yi) 器，配上專(zhuan) 門為(wei) 其開發的軟件，在鍍層行業(ye) 中可謂大展身手。

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求；

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；

高精度移動平台可定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm；

采用高度定位激光，可自動定位測試高度；

定位激光確定定位光斑，確保測試點與(yu) 光斑對齊；

鼠標可控製移動平台，鼠標點擊的位置就是被測點；

高分辨率探頭使分析結果更加精準；

良好的射線屏蔽作用；

測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護；

技術指標

型號：Thick 800A；鍍層厚度分析儀(yi)

元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾（U）；

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層；

分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm；

分析含量一般為(wei) ppm到99.9% ；

鍍層厚度一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）；

任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型；

相互獨立的基體(ti) 效應校正模型；

多變量非線性回收程序；

多次測量重複性可達0.1%；

*工作穩定性可達0.1%；

度適應範圍為(wei) 15℃至30℃；

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源；

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm ；

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm；

重量：90kg；

標準配置

開放式樣品腔；

精密二維移動樣品平台，探測器和X光管上下可動，實現三維移動；

雙激光定位裝置；

鉛玻璃屏蔽罩；

Si-Pin探測器；

信號檢測電子電路；

高低壓電源；

X光管；

高度傳(chuan) 感器；

保護傳(chuan) 感器；

計算機及噴墨打印機；