天瑞X熒光膜厚儀

產(chan) 品介紹

X熒光膜厚儀(yi) 是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chan) 生低能量的光子，俗稱為(wei) 二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值，一種無損、快速、的膜厚測試儀(yi) 器，對金屬鍍層（鍍金、鍍錫、鍍鋅、鍍鋁、鍍鉛、鍍銀、鍍鎳等），廣泛應用於(yu) 電路板、連接器、金屬絲(si) 、鏈接插件、引線框架、汽車零部件、半導體(ti) 、電子產(chan) 品、五金工具等企業(ye) 中，打破了國外（例如：德國Fischer）壟斷局麵，在電鍍行業(ye) 占有 一定地位，為(wei) 企業(ye) 提供有效解決(jue) 方案。

天瑞X熒光膜厚儀(yi) 技術參數

*工作穩定性高，故障率低。

多變量非線性回收程序

相互獨立的基體(ti) 效應校正模型

元素分析範圍從(cong) 硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層（鍍金、鍍錫、鍍鋅等）

一次可同時分析多達五層鍍層，快速、準確。

薄可測試0.005μm

分析含量一般為(wei) 2ppm到99.9% 

鍍層厚度一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）

任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型

度適應範圍為(wei) 15℃至30℃

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源

儀(yi) 器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

重量：90 kg

天瑞X熒光膜厚儀(yi) 性能優(you) 勢

鼠標可控製移動平台，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求

小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平台可定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與(yu) 光斑對齊