天瑞XRF膜厚儀

1、天瑞XRF膜厚儀(yi) 儀(yi) 器概述

XRF膜厚儀(yi) 由江蘇天瑞儀(yi) 器股份有限公司生產(chan) 銷售的一款分析儀(yi) 器，江蘇天瑞儀(yi) 器股份有限公司為(wei) 一家專(zhuan) 業(ye) 研發生產(chan) 儀(yi) 器的上市企業(ye) ，也是國內(nei) 的實驗室儀(yi) 器生產(chan) 商，公司總部位於(yu) 美麗(li) 的昆山市中華園西路1888號，歡迎客戶前來參觀。

鍍層膜厚是電鍍產(chan) 品的重要技術指標，關(guan) 係到產(chan) 品的質量以及生產(chan) 成本。 Thick800A-XRF膜厚儀(yi) 是天瑞集多年的經驗，專(zhuan) 門研發用於(yu) 鍍層行業(ye) 的一款膜厚測試儀(yi) 器，配備移動平台，可全自動軟件操作，並進行多點測試，檢測結果更加精準。

2、天瑞XRF膜厚儀(yi) 性能優(you) 勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平台可定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與(yu) 光斑對齊
鼠標可控製移動平台，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護

3、技術指標

元素分析範圍從(cong) 硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為(wei) 2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型
多變量非線性回收程序
*工作穩定性高
度適應範圍為(wei) 15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源
儀(yi) 器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg