天瑞儀器Thick800A型X熒光金屬鍍層測厚儀

天瑞儀(yi) 器Thick800A型X熒光金屬鍍層測厚儀(yi) 儀(yi) 器配置

開放式樣品腔 
精密二維移動樣品平台，探測器和X光管上下可動，實現三維移動 
雙激光定位裝置 
鉛玻璃屏蔽罩 
Si-Pin探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
X光管 
高度傳(chuan) 感器 
保護傳(chuan) 感器 
計算機及噴墨打印機

性能優(you) 勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求 
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求 
高精度移動平台可定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度 
定位激光確定定位光斑，確保測試點與(yu) 光斑對齊 
鼠標可控製移動平台，鼠標點擊的位置就是被測點 
高分辨率探頭使分析結果更加精準 
良好的射線屏蔽作用 
測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護

天瑞儀(yi) 器Thick800A型X熒光金屬鍍層測厚儀(yi) 技術指標

元素分析範圍：硫（S）～ 鈾（U） 
同時檢測元素：多24個(ge) 元素，5層鍍層 
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：2ppm～99.9%
鍍層厚度：50μm以內(nei) （每種材料有所不同） 
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型 
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型 
多變量非線性回收程序 
重複性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
操作環境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源 
外觀尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm 
重量：90kg