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X-ray鍍層測厚儀

更新時間:2020-04-13

簡要描述:

X-ray鍍層測厚儀(yi) 是利用X射線原理檢測電鍍金屬鍍層厚度,對鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銠、鍍鈀、鍍銀等鍍層厚度可以達到分析,多一次性可以分析5層,天瑞儀(yi) 器是生產(chan) 廠家,分析儀(yi) 器上市企業(ye) ,產(chan) 品打破了國外壟斷的局麵,在市場上占有一定的份額,thick800a是目前銷量的一款儀(yi) 器,性價(jia) 比非常高。

技術參數

 

型號:Thick 800A

多變量非線性回收程序

度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。

產(chan) 品名稱:X-ray鍍層測厚儀(yi)

元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾(U)。

同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。

分析含量一般為(wei) ppm99.9%

相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。

鍍層厚度一般在50μm以內(nei) (每種材料有所不同)

任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。

外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:90kg

 

標準配置

 

開放式樣品腔。

高低壓電源。

X光管。

高度傳(chuan) 感器

保護傳(chuan) 感器

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

計算機及噴墨打印機

精密二維移動樣品平台,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。

 

性能特點

 

采用高度定位激光,可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑,確保測試點與(yu) 光斑對齊

鼠標可控製移動平台,鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平台可定位測試點,重複定位精度小於(yu) 0.005mm

 

應用領域

 

X-ray鍍層測厚儀(yi) 以其快速、、操作簡單等特點被廣泛應用於(yu) 電子電器、五金工具、衛浴產(chan) 品、半導體(ti) 、電子連接器、高壓開關(guan) 等企業(ye) 及相關(guan) 企業(ye) 中,得到了客戶的廣泛認可。

 

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