天瑞磁性材料鍍層測厚儀 EDX1800B

物質的磁性能從(cong) 一開始就是與(yu) 電連接在一起的，到了現代，磁的特性得到進一步發揮，成為(wei) 電子信息的重要存儲(chu) 載體(ti) 。同時作為(wei) 電子器件的電磁元件也得到了進一步發展，在現代無線通訊中發揮著重要的作用。而無論是作為(wei) 電磁器件的磁性材料如釹鐵硼磁體(ti) ，還是作為(wei) 光電磁記錄的碟片、硬盤等，都離不開電子電鍍技術，從(cong) 而使磁性材料的電鍍技術成為(wei) 電子電鍍中一個(ge) 重要的領域。特別是硬盤製造技術，由於(yu) 這個(ge) 領域非常專(zhuan) 業(ye) ，致使電鍍界很多人對這個(ge) 領域都有一種陌生的感覺，其實這正是電鍍技術與(yu) 現代高技術的有代表性的結合點，從(cong) 事電子電鍍技術的人員應該對此有所了解。

儀(yi) 器概述

磁性材料鍍層測厚儀(yi) 是專(zhuan) 門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀(yi) 器。主要應用於(yu) ：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

天瑞磁性材料鍍層測厚儀(yi) EDX1800B性能優(you) 勢

精密的三維移動平台

的樣品觀測係統

*的圖像識別 

輕鬆實現深槽樣品的檢測

四種微孔聚焦準直器，自動切換

雙重保護措施，實現無縫防撞

采用大麵積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動智能控製方式，一鍵式操作!

開機自動退出自檢、複位 

開蓋自動退出樣品台，升起Z軸測試平台，方便放樣 

關(guan) 蓋推進樣品台，下降Z軸測試平台並自動完成對焦 

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 

點擊軟件界麵測試按鈕，自動完成測試並顯示測試結果

天瑞磁性材料鍍層測厚儀(yi) EDX1800B技術指標

分析元素範圍：從(cong) 硫（S）到鈾（U） 

同時檢測元素：多24個(ge) 元素，多達五層鍍層

檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm

分析含量：一般為(wei) 2ppm到99.9% 

鍍層厚度：一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）重複性：可達0.1%

穩定性：可達0.1%

SDD探測器：分辨率低至135eV

采用*的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩(liang) 個(ge) 工業(ye) 高清攝像頭

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與(yu)  

Ф0.3mm四種準直器組合

儀(yi) 器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm

X/Y/Z平台移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重複定位精度 ：小於(yu) 0.1um

操作環境濕度：≤90%

操作環境溫度 15℃～30℃

測試實例

在保證計數率的情況下能有效分辨相近元素，大大提高測試穩定性、降低檢測限。

磁性材料鍍層測厚儀(yi) 檢測譜圖

11次測量結果（Au-Cu)的穩定性數據對比如下：

次數    Thick8000    行業(ye) 內(nei) 其他儀(yi) 器

1    0.042    0.0481

2    0.043    0.0459

3    0.043    0.0461

4    0.0412    0.0432

5    0.0429    0.0458

6    0.0436    0.0458

7    0.0427    0.0483

8    0.0425    0.045

9    0.0416    0.0455

10    0.0432    0.0485

11    0.0422    0.043

平均值    0.0425    0.0459

標準偏差    0.0007    0.0019

相對標準偏差    1.70%    4.03%

極差    0.0024    0.0055