手持式合金元素光譜檢測儀價格

產(chan) 品介紹

手持式光譜儀(yi) 是一種基於(yu) XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀(yi) 器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲(chu) 器組成，由於(yu) 其便攜具有高效、便攜、準確等特點，使其在合金、礦石、環境、消費品等領域有著重要的應用。

工作原理

手持式光譜儀(yi) 是一種基於(yu) XRF光譜分析技術的光譜分析儀(yi) 器，當能量高於(yu) 原子內(nei) 層電子結合能的高能X射線與(yu) 原子發生碰撞時,驅逐一個(ge) 內(nei) 層電子從(cong) 而出現一個(ge) 空穴,使整個(ge) 原子體(ti) 係處於(yu) 不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chan) 生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(ge) 次級光電子，發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應。所逐出的次級光電子稱為(wei) 俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nei) 層空穴所釋放的能量不被原子內(nei) 吸收,而是以光子形式放出,便產(chan) 生X 射線熒光，其能量等於(yu) 兩(liang) 能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與(yu) 元素有一一對應的關(guan) 係。由Moseley定律可知，隻要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與(yu) 相應元素的含量有一定的關(guan) 係,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易於(yu) 測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

產(chan) 品特點

——現場檢測，快速無損，無需送抵實驗室，大大提高效率

——分析速度較台式光譜儀(yi) 快很多，僅(jin) 幾秒鍾就可顯示分析結果

——體(ti) 積小，重量輕，攜帶方便

性能優(you) 勢

*更便捷的操作

1、重量輕，體(ti) 積小，人體(ti) 工程學把手設計，配有儀(yi) 器套，更易抓握，野外使用更方便。

2、360 °可旋轉5寸高清屏，支持多點操控，任何光線下都能清晰顯示。

3、密封式一體(ti) 設計，具備防水防塵功能，可在惡劣環境下連續使用。

4、無需製備樣品，可直接對待測物表麵進行測定。儀(yi) 器既可手持進行快速測試，也能使用測試座對樣品進行較長時間的精細測試。

*更的性能

1、無損快速檢測，對準即測，一秒可報結果和合號。性能堪比台式機，檢測效果又快又準。

2、同時檢測 鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅、鋅、镓、鍺、鋯、铌、鉬、釕、銠、 鈀、銀、銦、錫、銻、鉿、 鉭、 鎢 、錸、鉑、金、鉛、 鉍、鎂、鋁、矽、磷、硫 元素，並且可以根據客戶需求進行定製再增加元素。

3、超近光路設計，儀(yi) 器無需充氦氣，可檢測從(cong) Mg開始的輕元素，*可以滿足特定用戶的需求。

*更強勁的電力

1、選配超大27000mAH鋰電池，續航工作時間可達三天。並配備交流和車載充電器，保證電力供應。

2、內(nei) 置記憶電池，換電池不斷電。

*更的配置

微型光管、Fast-SDD探測器（世界上的探測器）、微型數字信號多道處理器及智能分析模塊四大核心技術的引入，使其具有台式相近的測試精度。

采用超高主頻及大內(nei) 存，超大存儲(chu) 空間，可海量存儲(chu) 數據。全新自主研發的數字多道技術，保證每秒有效采譜計數可達500k cps。

準直濾波係統，其組合達到極限12組，滿足客戶的不同條件下的檢測需求。

內(nei) 置500W像素高清晰攝像頭，隨時觀察樣品測試位置，使測量更加精準。

*更安全的防護

1、智能三色預警係統：LED三色長燈帶設計，360度*顯示。通電開機時綠燈亮，測試紅燈閃爍，設備故障黃色燈閃爍，儀(yi) 器狀態，一目了然。

2、三重安全防護功能：

a: 自動感應，沒有樣品時儀(yi) 器不工作，無射線泄漏。

b: 采用加厚防護測試壁，有效防止散射。

c: 配送防護安全罩，防周邊輕基體(ti) 散射。

3、安全聯動鎖裝置，當軟件無法控製關(guan) 閉，輕輕一按，時間保護您的安全，守護後關(guan) 卡。

*更智能的軟件

1、EXPLORER 5000 合金分析儀(yi) 配有專(zhuan) 門針對合金行業(ye) 的專(zhuan) 業(ye) 應用軟件，具有智能化、高靈敏度、測試時間短、操作簡易等特點。

2、全新的智能軟件，一鍵智能操作，采用雙模設計（用戶模式和專(zhuan) 家模式）。用戶模式一鍵識別樣品材質；專(zhuan) 家模式可進行增加元素，增加特定曲線等深入分析操作。

3、內(nei) 置強度校正方法，校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。