X射線熒光光譜儀廠家

廠家——4500H型X射線熒光光譜儀(yi)

產(chan) 品介紹

X射線熒光光譜儀(yi) 用於(yu) 各種金屬材料中各種化學元素的成分分析。用於(yu) 原材料檢驗，冶煉生產(chan) 過程成分控製，成品元素成分定值及其它特殊應用,以檢測銅合金、不鏽鋼、耐熱鋼、爐渣、燒結礦等產(chan) 品的元素含量，控製產(chan) 品中的各成分含量，從(cong) 而在滿足客戶的技術要求下控製產(chan) 品的含量以降低生產(chan) 成本。

技術參數

產(chan) 品型號：EDX 4500H

產(chan) 品名稱：X射線熒光光譜儀(yi)

測量元素範圍：從(cong) 鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析範圍： ppm—99.99%（不同元素，分析範圍不同）

同時分析元素：一次性可測幾十種元素

測量時間：30秒-200秒

輸入電壓：AC 110V/220V

環境溫度：15℃-30℃

環境濕度：35%-70%

探測器能量分辨率為(wei) ：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

測量對象狀態：粉末、固體(ti) 、液體(ti)

樣品腔體(ti) 積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

工作原理

利用低能量X射線照射測試樣品，試樣中的一些原子將發射具用自身特征X射線熒光，從(cong) 而識別這些元素，同時無損檢測其含量。

技術優(you) 勢

天瑞儀(yi) 器4500H X射線熒光光譜儀(yi) 是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。

新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好

SDD矽漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

該儀(yi) 器的主要特征是利用智能真空係統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guan) 注的元素進行分析，在冶煉過程控製中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。的分析性能、極短的分析時間、極低的運行維護成本、智能化的操作模式，使樣品分析簡單易行。

應用領域

可以廣泛適用於(yu) 銅合金、鋁合金、爐渣、燒結礦、鋅合金、鎳合金、鈦合金、鈷合金、不鏽鋼等金屬樣品的成分分析。

天瑞儀(yi) 器4500H X射線熒光光譜儀(yi) 是當今金屬分析的選擇，同時可以輕鬆麵對未來分析的更高要求，不添加任何硬件設施，即可升級分析功能，方便靈活地隨生產(chan) 發展的需要增加分析的元素及合金種類。

廠家介紹

江蘇天瑞儀(yi) 器股份有限公司是國內(nei) 早研發生產(chan) X射線熒光光譜儀(yi) 的廠家，目前國內(nei) 的X射線熒光光譜儀(yi) 企業(ye) ，分析儀(yi) 器上市公司，產(chan) 品質量和售後服務在行業(ye) 內(nei) 。