X射線熒光光譜儀

EDX6000B X射線熒光光譜儀(yi)

儀(yi) 器介紹

EDX6000B X射線熒光光譜儀(yi) 是天瑞儀(yi) 器新研發的一款儀(yi) 器，專(zhuan) 門針對於(yu) 水泥行業(ye) ，礦產(chan) 行業(ye) 等研發出來的，同時可以應用於(yu) 鋼鐵、ROHS、合金等行業(ye) ，內(nei) 置自動移動轉盤，可同時測試多個(ge) 樣品，操作簡單方便，大大提高了測試效率。

性能特點

針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型 
多變量非線性回歸程序
超薄窗大麵積的*SDD探測器。
內(nei) 置信噪比增強器可有效提高儀(yi) 器信號處理能力25倍。
抽真空樣品腔，有利於(yu) 低含量輕元素的分析
X射線熒光光譜儀(yi) 是專(zhuan) 業(ye) 的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用於(yu) 鍍層檢測和RoHS檢測
智能全元素分析軟件，與(yu) 儀(yi) 器硬件相得益彰，且操作簡單

標準配置

內(nei) 置高清晰攝像頭
加強的金屬元素感度分析器 
高效超薄端窗X光管
電製冷UHRD探測器
信噪比增強器 
光路增強係統 
可自動切換型準直器和濾光片 
外觀尺寸： 510×589×350 mm 
樣品杯尺寸（10個(ge) ）：40.7×26mm
重量：55Kg

技術指標

元素分析範圍：從(cong) 鈉（Na）至鈾（U）
檢測限：RoHS指令規定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢出限達ppm級
測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.005微米
元素含量分析範圍：ppm—99.99%(不同材質，分析範圍不同) 
同時分析元素：同時可以分析30種以上元素
分析精度：0.05% (含量高於(yu) 96%以上的樣品，21次測試穩定性)
測量對象狀態：粉末、固體(ti) 、液體(ti)  
測量時間：60秒—200秒 
工作溫度:15℃—30℃ 
工作濕度：≤70% 
工作電壓：AC 110V/220V

應用領域

水泥檢測  
礦料分析
RoHS檢測 
鋼鐵和有色金屬檢測