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X-RAY熒光光譜儀

更新時間:2020-07-01

簡要描述:

X-RAY熒光光譜儀(yi) 定性分析是X熒光光譜分析的基礎,因為(wei) 隻有從(cong) 儀(yi) 器獲得的譜圖中辨認峰譜,才能知道待測試樣中還有那些元素,並且分析待測元素的主要譜線,以及常見的幹擾譜線,以便選擇合適的測量譜線,用於(yu) 定量分析方法,確定譜線的重疊校正方法,選擇校正元素,終達到準確測試樣品的效果。

X-RAY熒光光譜儀(yi) 屬於(yu) *的分析檢測儀(yi) 器,隨著半導體(ti) 微電子技術和計算機技術的飛速發展,傳(chuan) 統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從(cong) 經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內(nei) 人工操作應用模式,轉化成光、機、電、算(計算機)一體(ti) 化、自動化的結構,並向智能化、小型化、在線式及儀(yi) 器聯用方向發展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X熒光光譜儀(yi) 技術為(wei) 基礎,結合國外相關(guan) 新的技術發展成果,研製出具有自主知識產(chan) 權的EDX 3600K型X熒光光譜儀(yi) 。

截圖20170522165308.jpg

 

X-RAY熒光光譜儀(yi) 應用領域

專(zhuan) 為(wei) 粉未冶煉行業(ye) 研發的一款設備,主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃製造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(ye) 、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環境監測、有色金屬、食品、農(nong) 業(ye) 等科研院所、大專(zhuan) 院校和工礦企業(ye) 中也得到廣泛應用。

性能優(you) 勢

1.超低能量分辨率,輕元素檢測效果更佳
使用大麵積鈹窗電致冷SDD探測器,探測器分辨率達到139eV,各項指標優(you) 於(yu) 國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高,檢出限更低
①專(zhuan) 業(ye) 化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計,保證測試時達到10Pa以下,使設備的測試範圍可從(cong) F元素起測試,大大地提高測試範圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快,從(cong) 第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發的數字多道技術,其線性計數率可達100kcps,可以更加快速的分析,從(cong) 第1秒就可以得出定性定量結果,
設計成高計數率,大大提高了設備的穩定性。

4. 一鍵式智能化操作
專(zhuan) 業(ye) 軟件,*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,使操作簡易,對操作人員限製小的特點。

5. 強大的自動化功能
①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與(yu) 濾光片等功能。
②采用自動穩譜裝置,保證了儀(yi) 器工作的*性:利用解譜技術使譜峰分解,采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加,內(nei) 置強度校正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路係統
自主研發的光路係統,光程更短,光路損失更少,激發效果更佳。

8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能,自動感應,沒有樣品時儀(yi) 器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。

9. 安全提醒係統
警告指示係統,通電時綠色指示燈亮,測試時黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。

 

定性與(yu) 定量分析

(一)、定性分析
定性分析是X熒光光譜分析的基礎,因為(wei) 隻有從(cong) 儀(yi) 器獲得的譜圖中辨認峰譜,才能知道待測試樣中還有那些元素,並且分析待測元素的主要譜線,以及常見的幹擾譜線,以便選擇合適的測量譜線,用於(yu) 定量分析方法,確定譜線的重疊校正方法,選擇校正元素,終達到準確測試樣品的效果。
定性分析的方法:
1、 判斷儀(yi) 器的能量刻度是否正確,可以用已知元素的樣品進行測試,觀察是否能夠正確識別樣品中的元素。如果不正確,需要重新建立能量刻度。
2、 首先判斷X光管靶材的特征峰位。其峰位處的峰譜,可能不是樣品所含有的元素。
3、 分辨元素峰譜的K線和L線,一般情況下,52#(Te,碲)元素以前的元素,大多測試其K線,但35#~52#之間的元素,其L線也可以被檢測出來,同時它的L線會(hui) 對輕元素測量產(chan) 生影響。52#以後的元素一般測試其L線。
4、 K線一般有K線必然有K線,線的強度比例在5:1左右,L線必然有L、L…等4條線,在判斷是否是某元素時必須考慮這一因素。
5、 觀察各個(ge) 線之間的幹擾,找到幹擾的元素線係,並確定重疊幹擾線之間的影響程度。
 
(二)、定量分析
X熒光的定量分析可以簡化為(wei) 以下公式,它受四種因素影響:
 Ci=KiIiMiSi
式中:C為(wei) 待測元素的濃度,下標I式待測元素;K為(wei) 儀(yi) 器的校正因子;I式測得的待測元素X射線熒光強度,經過背景、譜重疊和死時間校正後,獲得的純強度。M式元素間的吸收和增強效應校正。S與(yu) 樣品的物理形態有關(guan) ,如試樣的均勻性、厚度、表麵結果等,要通過製樣來消除。
根據以上的簡化公式,可以將定量分析的方法分為(wei) 以下幾個(ge) 步驟:
①     根據樣品的物理形態和對分析精度與(yu) 準確度要求,決(jue) 定采用何種的製樣方法。確定了製樣方法後,應了解製樣的誤差主要因素,應該在方法中加以注意。
②     用標準樣品確定的分析條件,如:X射線管的管壓,管流,原級譜濾光片,測量時間等。
③     確定強度的提取方法。
④     製作工作曲線。
⑤     用標準樣品驗證分析方法的可靠性及分析數據的不確定度。



 

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