X熒光光譜儀優惠

X熒光光譜儀(yi) （XRF）由激發源（X射線管）和探測係統構成。X射線管產(chan) 生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產(chan) 生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。X熒光光譜儀(yi) 屬於(yu) *的分析檢測儀(yi) 器，隨著半導體(ti) 微電子技術和計算機技術的飛速發展，傳(chuan) 統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從(cong) 經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內(nei) 人工操作應用模式，轉化成光、機、電、算（計算機）一體(ti) 化、自動化的結構，並向智能化、小型化、在線式及儀(yi) 器聯用方向發展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X熒光光譜儀(yi) 技術為(wei) 基礎，結合國外相關(guan) 新的技術發展成果，研製出具有自主知識產(chan) 權的EDX 3600K型X熒光光譜儀(yi) ，這款儀(yi) 器的亮點在於(yu) 它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔，產(chan) 品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測，並通過中國儀(yi) 器儀(yi) 表學會(hui) 分析儀(yi) 器分會(hui) 組織的科技成果鑒定，技術達到*水平。

軟件優(you) 勢

采用公司新的能譜EDXRF軟件，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，操作簡易，對操作人員限製小的特點。
具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內(nei) 置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界麵和內(nei) 核，采用FP和EC軟件組合的方法，應用麵更加廣泛。

儀(yi) 器配置

鈹窗電製冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強係統
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體(ti)
自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
*的數字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型

技術參數

型號：EDX3600K
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體(ti) 積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素範圍：原子序數為(wei) 9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素
含量範圍：ppm～99.99%
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體(ti) 、液體(ti) 及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為(wei) 144±5eV,可選配極速探測器至125eV
激發源：銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
測井環境：超真空係統，10秒可抽到10Pa以下
濾光片：6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數元素來說，檢出限達5～500ppm
真空係統：超真空係統，10秒可到10Pa
數據傳(chuan) 輸：數字多道技術，快速分析，高計數率
測試台：360°電動旋轉式
保護係統：樣品腔為(wei) 電動控製，上蓋打開時測試已完成
樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環，可防止樣品晃動
數字多道技術：計數率>50kcps，有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度：15℃～30℃

性能優(you) 勢

1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大麵積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達到139eV，各項指標優(you) 於(yu) 國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高，檢出限更低
①專(zhuan) 業(ye) 化的樣品腔設計，帶可調速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計，保證測試時達到10Pa以下，使設備的測試範圍可從(cong) F元素起測試，大大地提高測試範圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快，從(cong) 第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發的數字多道技術，其線性計數率可達100kcps，可以更加快速的分析，從(cong) 第1秒就可以得出定性定量結果，
設計成高計數率，大大提高了設備的穩定性。

4. 一鍵式智能化操作
專(zhuan) 業(ye) 軟件，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，使操作簡易，對操作人員限製小的特點。

5. 強大的自動化功能
①自動化程度高，具有自動開蓋、自動切換準直器與(yu) 濾光片等功能。
②采用自動穩譜裝置，保證了儀(yi) 器工作的*性：利用解譜技術使譜峰分解，采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加，內(nei) 置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路係統
自主研發的光路係統，光程更短，光路損失更少，激發效果更佳。

8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能，自動感應，沒有樣品時儀(yi) 器不工作，無射線泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護安全罩。

9. 安全警示係統
警告指示係統，通電時綠色指示燈亮，測試時黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。

應用領域

專(zhuan) 為(wei) 粉未冶煉行業(ye) 研發的一款設備，主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃製造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(ye) 、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環境監測、有色金屬、食品、農(nong) 業(ye) 等科研院所、大專(zhuan) 院校和工礦企業(ye) 中也得到廣泛應用。

技術原理

受激發的樣品中的每一種元素會(hui) 放射出二次X射線，並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測係統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後，儀(yi) 器軟件將探測係統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
元素的原子受到高能輻射激發而引起內(nei) 層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與(yu) 元素的原子序數Z有關(guan) ，其數學關(guan) 係如下：
λ=K(Z? s) ?2
式中K和S是常數。
而根據量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個(ge) 光具有的能量為(wei) ：
E=hν=h C/λ
式中，E為(wei) X射線光子的能量，單位為(wei) keV；h為(wei) 普朗克常數；ν為(wei) 光波的頻率；C為(wei) 光速。
因此,隻要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與(yu) 相應元素的含量有一定的關(guan) 係，據此，可以進行元素定量分析。

廠家介紹

江蘇天瑞儀(yi) 器股份有限公司是專(zhuan) 業(ye) 生產(chan) ROHS測試儀(yi) ，X射線測厚儀(yi) ，電鍍層測厚儀(yi) ，氣相色譜質譜聯用儀(yi) ，LCMS，手持式合金分析儀(yi) ，銅金成分分析儀(yi) 器等。

天瑞儀(yi) 器成立於(yu) 1992 年，以研究、生產(chan) 、銷售X 熒光光譜分析儀(yi) 起步，目前從(cong) 事以光譜儀(yi) 、色譜儀(yi) 、質譜儀(yi) 為(wei) 主的分析儀(yi) 器及應用軟件的研發、生產(chan) 、銷售和相關(guan) 技術服務，是國內(nei) 在創業(ye) 板上市的分析儀(yi) 器企業(ye) 。公司產(chan) 品主要應用於(yu) 環境保護與(yu) 安全（空氣、土壤、水質汙染檢測等）、礦產(chan) 與(yu) 資源（地質、采礦）、商品檢驗甚至人體(ti) 微量元素的檢驗等眾(zhong) 多領域。