更新時間:2020-04-13
鍍鎳厚度測量儀(yi) 是一款通過X射線原理快速、無損測試鍍層膜厚的儀(yi) 器,主要應用於(yu) 金屬鍍層(鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銀
型號:Thick 800A 鍍鎳層測厚儀(yi)
元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為(wei) ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nei) (每種材料有所不同)
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
性能特點
定位激光確定定位光斑,確保測試點與(yu) 光斑對齊
鼠標可控製移動平台,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平台可定位測試點,重複定位精度小於(yu) 0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度