Skyray鍍層分析儀

Skyray鍍層分析儀(yi) thick800a可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控製儀(yi) 器的測試點，以及移動平台。是一款功能強大的儀(yi) 器，配上專(zhuan) 門為(wei) 其開發的軟件，在鍍層行業(ye) 中可謂大展身手。 
 
產(chan) 品介紹

Skyray鍍層分析儀(yi) (thick800a)是一款快速鍍層厚度分析儀(yi) ，是基於(yu) X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可並且得到廣泛應用，可以在無需樣品製備的情況下提供易於(yu) 操作、快速和無損的分析。

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用於(yu) 貴金屬加工和首飾加工行業(ye) ；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(ye) 。

標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平台，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳(chuan) 感器
保護傳(chuan) 感器
計算機及噴墨打印機

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平台可定位測試點，重複定位精度小於(yu) 0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與(yu) 光斑對齊
鼠標可控製移動平台，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護

 
技術指標

型號：Thick 800A
元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾（U）。 
一次可同時分析多24個(ge) 元素，五層鍍層。
分析含量一般為(wei) 2ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。 
儀(yi) 器尺寸：576(W) x 495 (D) x 545（H） mm
重量：90 kg