產品名稱：X熒光膜厚測試儀

產品型號：thick8000

生產廠家：江蘇天瑞儀器股份有限公司

生產地址：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號

產品介紹

Thick 8000X熒光膜厚測試儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要針對金屬鍍層（鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍銠、鍍鈀、鍍銀等）膜厚測試，產品*實現智能化，滿足客戶的測試要求。

性能優勢

1.精密的三維移動平台

2.的樣品觀測係統

3.*的圖像識別

4.輕鬆實現深槽樣品的檢測

5.四種微孔聚焦準直器，自動切換

6.雙重保護措施，實現無縫防撞

7.采用大麵積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動智能控製方式，一鍵式操作!

開機自動自檢、複位；

開蓋自動退出樣品台，升起Z軸測試平台，方便放樣；

關蓋推進樣品台，下降Z軸測試平台並自動完成對焦；

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點；

點擊軟件界麵測試按鈕，自動完成測試並顯示結果。

技術指標

分析元素範圍：硫（S）～鈾（U）

同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層

檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm

分析含量：一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）

重複性：可達0.1%

穩定性：可達0.1%

SDD探測器：分辨率低至135eV

*的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm

X/Y/Z平台移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重複定位精度：小於0.1um

操作環境濕度：≤90%

操作環境溫度：15℃～30℃

應用領域

膜厚測試儀廣泛應用於PCB板企業、電子企業、五金企業、印製電路企業、半導體芯企業、框架和連接器企業、金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。