天瑞儀器x熒光鍍層測厚儀thick800a技術參數

重量：90 kg
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
*工作穩定性高
溫度適應範圍為15℃至30℃
元素分析範圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

天瑞儀器x熒光鍍層測厚儀thick800a性能優勢

可靠性高
由於測試過程無人為因素幹擾，儀器自身分析精度、重複性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求
：測試軟件為WINDOWS操作係統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，並就有多種*的分析方法，工作曲線製作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
快速
1分鍾就可以測定樣品鍍層的厚度，並達到測量精度要求。
無損
測試前後，樣品無任何形式的變化。
直觀
實時譜圖，可直觀顯示產品測試點
簡易
對人員技術要求較低，操作簡單方便,並且維護簡單方便。
性價比高
相比其他類類儀器，x熒光鍍層測厚儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。