更新時間:2020-04-13
鍍鎳THICK600測厚儀(yi) 是天瑞儀(yi) 器價(jia) 格優(you) 的鍍層測厚儀(yi) ;儀(yi) 器采用下照式結構,適合平麵樣品的檢測,配置的軟件界麵簡潔,測試樣品用時40S,售後服務可靠及時。
天瑞儀(yi) 器92年就開始做光譜儀(yi) ,經過多年的積累,在鍍層厚度檢測方麵,我們(men) 一直保持國內(nei) :主要原因是我們(men) 的性價(jia) 比與(yu) 售後服務具有很強的競爭(zheng) 力,這個(ge) 優(you) 勢不僅(jin) 僅(jin) 體(ti) 現在購買(mai) 價(jia) 格上,也體(ti) 現在產(chan) 品生命周期花費的總體(ti) 成本上。
Thick600鍍鎳測厚儀(yi) 是天瑞儀(yi) 器價(jia) 格優(you) 的鍍層測厚儀(yi) ;儀(yi) 器采用下照式結構,適合平麵樣品的檢測,配置的軟件界麵簡潔,測試樣品用時40S,售後服務可靠及時。
鍍鎳THICK600測厚儀(yi) 技術參數
1 分析元素範圍:S-U2 可分析多達3層以上鍍層3 分析厚度檢出限達0.02μm4 多次測量重複性可達0.05μm5 定位精度:0.5mm5 測量時間:30s-300s6 計數率:1000-8000cps
7 儀(yi) 器適合測試平麵。以單層Fe鍍Ni的標樣為(wei) 例,分析的範圍是0.02—30um,在這個(ge) 範圍內(nei) ,才能檢測。0.5-10um的,偏差是5%,就是說真值是1um,用儀(yi) 器測試的值是0.95-1.05um。
鍍鎳THICK600測厚儀(yi) 性能優(you) 勢
下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求準直器和濾光片手動切換:不同樣品材質用不同的準直器移動平台:精細的手動移動平台,方便定位測試點高分辨率探測器:提高分析的準確性新一代的高壓電源和X光管:性能穩定可靠,高達50W的功率實現更高的測試效率
應用領域
鍍層厚度分析;RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測;
合金成分分析;
測試步驟
1.每天開機預熱30分鍾後打開測試軟件“FpThick”:用戶使用“Administrator”,密碼:skyray2.進入測試軟件後,選擇“測試條件”點擊“確定”,即測試條件確定(儀(yi) 器已設置好)3.選擇“工作曲線”如待測樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類推4.放入“Ag片”對儀(yi) 器進行初始化初始化完成後,(峰通道為(wei) 1105,計數率達到一定的數,如300以上)。5.待測樣品測試放入待測的樣品,通過攝像頭畫麵觀察當前放入的樣品的表麵情況,以及儀(yi) 器的X射線的聚焦點。可以通過軟件提供的十字坐標(也稱十字光標)來定位該聚焦點,將樣品放在聚焦點位置。點擊“開始”,輸入樣品名稱後“確定”。6.測試完成後即可保持報告,報告的位置可以在桌麵的“分析報告”快捷方式中的“鍍層報告”中找到。注意:測試鍍層樣品時,必須先要確定是什麽(me) 鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。