更新時間:2020-04-13
X熒光鍍層電鍍Thick800a測厚儀(yi) 原理是根據X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線量,根據該X射線的能量值,確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為(wei) 電信號,經過前置放大器放大,再由測厚儀(yi) 操作係統轉換為(wei) 顯示給人們(men) 以直觀的實際厚度信號。
X射線源輻射強度的大小,與(yu) X射線管的發射強度和被測鋼板所吸收的X射線強度相關(guan) 。一個(ge) 在係統量程範圍內(nei) 的給定厚度,為(wei) 了確定其所需的X射線能量值,可利用M215型X射線檢測儀(yi) 進行校準。在檢測任一特殊厚度時,係統將設定X射線的能量值,使檢測能夠順利完成。
X熒光鍍層電鍍測厚儀(yi) 在厚度一定的情況下,X射線的能量值為(wei) 常量。當安全快門打開,X射線將從(cong) X射線源和探頭之間的被測鋼板中通過,被測鋼板將一部分能量吸收,剩餘(yu) 的X射線被位於(yu) X射線源正上方的探頭接收,探頭將所接收的X射線轉換為(wei) 與(yu) 之大小相關(guan) 的輸出電壓。如果改變被測鋼板的厚度,則所吸收的X射線量也將改變,這將使探頭所接收的X射線量發生變化,檢測信號也隨之發生相應的變化。
X熒光鍍層電鍍測厚儀(yi) 按射線源的種類可分為(wei) X射線測厚儀(yi) 與(yu) 核輻射線測厚儀(yi) 兩(liang) 類,而後者又可多r射線測厚儀(yi) 與(yu) 射線測厚儀(yi) 。按射線與(yu) 被測板材的作用方式,又可分為(wei) 穿透式和反射式。
X熒光鍍層電鍍測厚儀(yi) 是利用射線與(yu) 物質相互作用時,為(wei) 物質所吸收或散射的效應來進行測量的一種儀(yi) 表。其主要特點:
(1)可進行連續和不接觸地測量;
(2)測量精度較高;
(3)反應速度較快;
(4)能夠給出供濕示、記錄與(yu) 控製的電信號,易於(yu) 實現生產(chan) 自動化。
X熒光鍍層電鍍測厚儀(yi) 性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表麵樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平台可定位測試點,重複定位精度小於(yu) 0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與(yu) 光斑對齊
鼠標可控製移動平台,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳(chuan) 感器保護
X熒光鍍層電鍍測厚儀(yi) 標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平台,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳(chuan) 感器
保護傳(chuan) 感器
計算機及噴墨打印機
技術指標
型號:Thick 800A
元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為(wei) ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nei) (每種材料有所不同)
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。
X熒光鍍層電鍍測厚儀(yi) 多變量非線性回收程序
度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg