螺母鍍層測厚儀 thick800a 天瑞儀器

螺母鍍層測厚儀(yi) thick800a 天瑞儀(yi) 器價(jia) 格

標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平台，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳(chuan) 感器
保護傳(chuan) 感器
計算機及噴墨打印機

技術指標

型號：Thick 800A
元素分析範圍從(cong) 硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為(wei) ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）
任意多個(ge) 可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體(ti) 效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應範圍為(wei) 15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

五金鍍層測量已成為(wei) 加工工業(ye) 、表麵工程質量檢測的重要環節，是產(chan) 品達到優(you) 等質量標準的必要手段。為(wei) 使產(chan) 品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。

螺母就是螺帽，與(yu) 螺栓或螺杆擰在一起用來起緊固作用的零件，所有生產(chan) 製造機械必須用的一種元件根據材質的不同，分為(wei) 碳鋼、不鏽鋼、有色金屬（如銅）等幾大類型

    鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用於(yu) 抽樣檢驗。

    天瑞儀(yi) 器螺母鍍層測厚儀(yi) 是將X射線照射在樣品上，通過從(cong) 樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為(wei) 沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線隻有45-75W左右，所以不會(hui) 對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鍾內(nei) 完成。

螺母鍍層測厚儀(yi) 測量值精度的影響因素
    1．影響因素的有關(guan) 說明
    a 基體(ti) 金屬磁性質
    磁性法測厚受基體(ti) 金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為(wei) 是輕微的），為(wei) 了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與(yu) 試件基體(ti) 金屬具有相同性質的標準片對儀(yi) 器進行校準；亦可用待塗覆試件進行校準。
    b 基體(ti) 金屬電性質
    基體(ti) 金屬的電導率對測量有影響，而基體(ti) 金屬的電導率與(yu) 其材料成分及熱處理方法有關(guan) 。使用與(yu) 試件基體(ti) 金屬具有相同性質的標準片對儀(yi) 器進行校準。
    c 基體(ti) 金屬厚度
    每一種儀(yi) 器都有一個(ge) 基體(ti) 金屬的臨(lin) 界厚度。大於(yu) 這個(ge) 厚度，測量就不受基體(ti) 金屬厚度的影響。本儀(yi) 器的臨(lin) 界厚度值見附表1。
    d 邊緣效應
    本儀(yi) 器對試件表麵形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nei) 轉角處進行測量是不可靠的。
    e 曲率
    試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表麵上測量是不可靠的。
    f 試件的變形
    測頭會(hui) 使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
    g 表麵粗糙度
    基體(ti) 金屬和覆蓋層的表麵粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表麵會(hui) 引起係統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體(ti) 金屬粗糙，還必須在未塗覆的粗糙度相類似的基體(ti) 金屬試件上取幾個(ge) 位置校對儀(yi) 器的零點；或用對基體(ti) 金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層後，再校對儀(yi) 器的零點。
    g 磁場
    周圍各種電氣設備所產(chan) 生的強磁場，會(hui) 嚴(yan) 重地幹擾磁性法測厚工作。
    h 附著物質
    本儀(yi) 器對那些妨礙測頭與(yu) 覆蓋層表麵緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀(yi) 器測頭和被測試件表麵直接接觸。
    i 測頭壓力
    測頭置於(yu) 試件上所施加的壓力大小會(hui) 影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
    j 測頭的取向
    測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與(yu) 試樣表麵保持垂直。
    2．使用儀(yi) 器時應當遵守的規定
    a 基體(ti) 金屬特性
    對於(yu) 磁性方法，標準片的基體(ti) 金屬的磁性和表麵粗糙度，應當與(yu) 試件基體(ti) 金屬的磁性和表麵粗糙度相似。
    對於(yu) 渦流方法，標準片基體(ti) 金屬的電性質，應當與(yu) 試件基體(ti) 金屬的電性質相似。
    b 基體(ti) 金屬厚度
    檢查基體(ti) 金屬厚度是否超過臨(lin) 界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
    c 邊緣效應
    不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nei) 轉角等處進行測量。
    d 曲率
    不應在試件的彎曲表麵上測量。
    e 讀數次數
    通常由於(yu) 儀(yi) 器的每次讀數並不*相同，因此必須在每一測量麵積內(nei) 取幾個(ge) 讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的麵積內(nei) 進行多次測量，表麵粗造時更應如此。
    f 表麵清潔度
    測量前，應清除表麵上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產(chan) 物等，但不要除去任何覆蓋層物質

螺母鍍層測厚儀(yi) thick800a 天瑞儀(yi) 器價(jia) 格廠家介紹

天瑞儀(yi) 器成立於(yu) 1992 年，以研究、生產(chan) 、銷售X 熒光光譜分析儀(yi) 起步，目前從(cong) 事以光譜儀(yi) 、色譜儀(yi) 、質譜儀(yi) 為(wei) 主的分析儀(yi) 器及應用軟件的研發、生產(chan) 、銷售和相關(guan) 技術服務，是國內(nei) 在創業(ye) 板上市的分析儀(yi) 器企業(ye) 。公司產(chan) 品主要應用於(yu) 環境保護與(yu) 安全（空氣、土壤、水質汙染檢測等）、礦產(chan) 與(yu) 資源（地質、采礦）、商品檢驗甚至人體(ti) 微量元素的檢驗等眾(zhong) 多領域。

江蘇天瑞儀(yi) 器股份有限公司是專(zhuan) 業(ye) 生產(chan) ROHS測試儀(yi) ，液相色譜質譜儀(yi) （LCMS）,原子熒光光譜儀(yi) ，x射線測厚儀(yi) ，手持式ROHS光譜儀(yi) ，ROHS檢測設備，X射線鍍層測厚儀(yi) ，氣相色譜儀(yi) ，EDX1800B,ROHS檢測儀(yi) ，首先ROHS檢測儀(yi) 廠家，ICP光譜分析儀(yi) ，液相色譜儀(yi) ，EDX1800E,ROHS2.0新增4項分析儀(yi) ，EDX2800,手持式礦石分析儀(yi) ，雙酚A檢測儀(yi) ，X射線熒光光譜儀(yi) ，大米重金屬快速檢測儀(yi) ，汽油中矽含量檢測儀(yi) ，ROHS2.0檢測儀(yi) ，EDX1800BH,電感耦合等離子體(ti) 光譜儀(yi) ，ICP等離子光譜儀(yi) ，EDX1800BS,氣相色譜質譜聯用儀(yi) （GCMS）,EDX1800, ROHS儀(yi) 器，手持式合金分析儀(yi) 等分析儀(yi) 器，涉及的儀(yi) 器設備主要有Thick 8000、Thick800A、EDX600、AAS 9000、AAS 8000等。

價(jia) 格