*製造商鐵鍍鋅鎳合金測厚儀江蘇天瑞

Thick600鐵鍍鋅鎳合金測厚儀(yi) 是天瑞儀(yi) 器實惠的鍍層測厚儀(yi) ；儀(yi) 器采用下照式結構，適合平麵樣品的檢測，配置的軟件界麵簡潔，測試樣品用時40S，售後服務可靠及時。

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：

1、光學顯微鏡法。適用標準為(wei) ：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線法）。適用標準為(wei) ：GB/T16921-2005

3、庫侖(lun) 法，此法一般為(wei) 仲裁方法。適用標準為(wei) ：GB/T4955-2005

測量標準

1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美國標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

分析原理

Thick600鐵鍍鋅鎳合金測厚儀(yi) 采用的是一種XRF光譜分析技術，X光管產(chan) 生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nei) 層電子，出現殼層空穴，當外層電子從(cong) 高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會(hui) 產(chan) 生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易於(yu) 測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

樣品測試步驟

1）              每天開機預熱30分鍾後打開測試軟件“FpThick”：

用戶使用“Administrator”，密碼：skyray

2）              進入測試軟件後，選擇“測試條件”

點擊“確定”，即測試條件確定（儀(yi) 器已設置好）

3）              選擇“工作曲線”

如待測樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推

4）              放入“Ag片”對儀(yi) 器進行初始化

初始化完成後，（峰通道為(wei) 1105，計數率達到一定的數，如300以上）。

5）              待測樣品測試

放入待測的樣品，通過攝像頭畫麵觀察當前放入的樣品的表麵情況，以及儀(yi) 器的X射線的聚焦點。可以通過軟件提供的十字坐標（也稱十字光標）來定位該聚焦點，將樣品放在聚焦點位置。點擊“開始”，輸入樣品名稱後“確定”。

6）              測試完成後即可保持報告，報告的位置可以在桌麵的“分析報告”快捷方式中的“鍍層報告”中找到。

注意：測試鍍層樣品時，必須先要確定是什麽(me) 鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。

性能特點    

1. *穩定X銅光管；

2.半導體(ti) 矽片電製冷探測器，摒棄元素識別能力較弱的計數盒；

3.內(nei) 置天瑞儀(yi) 器研發部研發的—信噪比增強器（SNE）與(yu) MCA多道分析器；

4.內(nei) 置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品；

5.脈衝(chong) 處理器，數據處理快速準確；

6.手動開關(guan) 樣品腔，操作安全方便；

7.三重安全保護模式；

8.整體(ti) 鋼架結構、外型簡潔；

9.FP軟件，無標準樣品時亦可測量。

質量保證、技術服務

1.儀(yi) 器進行終身維修；

2.軟件免費升級：如有軟件升級，乙方將免費提供軟件升級，不再收取升級費用；

3.保修條款

3.1乙方對本合同銷售儀(yi) 器設備自驗收合格之日起免費保修1年；

3.2保修期結束後，乙方為(wei) 甲方提供維修服務的資費標準如下：

交通費、住宿費由甲方承擔；

資費標準：硬件成本費用——按乙方時價(jia) 計算

硬件運輸費——實報實銷

服務費——300元 / 人 / 天

人員交通費——實報實銷

人員住宿費用——￥300元/天

4.技術服務的響應期限：提供有效的技術服務，在接到用戶故障信息後，4小時內(nei) 響應；如有

必要，12～72個(ge) 小時內(nei) 派人上門維修和排除故障。

Thick 8000鐵鍍鋅鎳合金測厚儀(yi) 是專(zhuan) 門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀(yi) 器。主要應用於(yu) ：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

性能特點

1.精密的三維移動平台； 

2.的樣品觀測係統； 

3.*的圖像識別； 

4.輕鬆實現深槽樣品的檢測； 

5.四種微孔聚焦準直器，自動切換； 

6.雙重保護措施，實現無縫防撞； 

7.采用大麵積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度。

安裝要求：

1   環境溫度要求：15℃-30℃

2   環境相對濕度：<70%

3   工作電源：交流220±5V

4   周圍不能有強電磁幹擾。

參數規格

1．分析元素範圍：硫（S）～鈾（U）； 

2.同時檢測元素：多24個(ge) 元素，多達5層鍍層；

3.分析含量：一般為(wei) 2ppm到99.9%；

4.鍍層厚度：一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）；

5.SDD探測器：分辨率低至135eV；

6.*的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm；

7.樣品觀察：配備全景和局部兩(liang) 個(ge) 工業(ye) 高清攝像頭； 

8.準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與(yu) Ф0.3mm四種準直器組合； 

9.儀(yi) 器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；

10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；

11.樣品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；

12.X/Y/Z平台移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；

13.X/Y/Z平台重複定位精度：小於(yu) 0.1um；

儀(yi) 器配置                                            

1    硬件：主機壹台，含下列主要部件： 

(1)   X光管                 (2) 半導體(ti) 探測器

(3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動平台

(5) 高清晰攝像頭            (6) 高壓係統

(7) 上照、開放式樣品腔      (8）雙激光定位